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Di.1.A.1
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EMIR: ein direkt bildgebendes Verfahren der Mikrowellenprüfung
J.H. Hinken, G. Horst, FI Test- und Messtechnik, Magdeburg
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Kurzfassung + Powerpoint
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Di.1.A.2
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Markt, Entwicklung und Stand der Technik der Terahertz-Systeme:
Vergangenheit, Gegenwart und Zukunft
T. Hochrein, SKZ - Das Kunststoff-Zentrum, Würzburg
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Manuskript
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Di.1.A.3
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Mikrowellenscanner für die zerstörungsfreie dielektrische Materialuntersuchung
B. Jungstand, A. Göller, hf sensor, Leipzig
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ohne Manuskript
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Di.1.A.4
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Qualitätssicherung und Untersuchung von Kanal-Schlauchlinern mittels zerstörungsfreier Prüfverfahren
M. Manavipour, C. Sklarczyk, J.H. Kurz, C. Boller, Fraunhofer IZFP, Saarbrücken
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Manuskript
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